Rf indicator environment
测试项目
公司拥有紧缩场测试暗室系统频率覆盖4~110GHz, 静区尺寸≥800mm×800mm , 系统配备了高精度五轴测试转台，并配置了直线型紧缩场馈源自动切换系统，可应用于毫米波无源/有源相控阵天线测试、毫米波民用车载雷达产品测试和5G 毫米波终端/基站测试等。可针对客户提供开放式的定制或通用测试服务。
静区性能
Static zone performance
Test project
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幅度锥削：≤1dB
幅度起伏：≤±0.5dB;
相位波动： ≤±5°(4～18GHz,0.8m×0.8m静区）
≤±4°(18～40GHz,0.6m×0.6m静区）
≤±5°(18～40GHz,0.8m×0.8m静区）
≤±5°(40 110GHz,0.6m×0.6m静区）
≤±7°(40～110GHz,0.8m×0.8m静区）
交叉极化： ≤-38dB(0.2m×0.2m静区）
≤-35dB(0.4m×0.4m静区）
≤-32dB(0.6m×0.6m静区）
≤-30dB(0.8m×0.8m静区）
具备自动化相控阵天线数据分析功能
具备“一键测试”功能，天线多工作状态和测试链路可自动切换。软件方面实现了相控阵天线测试过程全自动化，具备丰富的测试数据显示功能，以及强大的相控阵天线测试数据分析功能，可自动获取天线指标.
≤-30dB(0.8m×0.8m静区）
测试数据
Test data
基本参数
Basic parameter
频率范围：4GHz~110GHz
暗室尺寸：6m*3.3m*2.6m
系统承重：50kg
待测天线转台精度：±0.05°
屏蔽能效：90dB
增益测试精度：±0.5dB
